Fallas por radiación en ci y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas.
En este proyecto se propone: 1- Formular y analizar los problemas actuales en las técnicas de inyección de fallas para estimar SER (Single Event Response) en los circuitos integrados, aplicandolas luego para evaluar la tolerancia a fallos de diferentes circuitos integrados analógicos/digitales. El o...
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| Publicado: |
2014
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| Materias: |